Přihlásit

Laboratoř analytických metod

Odborný garant laboratoře: Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.

Hlavní cíle a aktivity laboratoře

  • Analýzy vstupních a výstupních materiálů pokročilých technologií, zejména pak materiálů s tenkými vrstvami, nanočásticemi či nanovlákny.
  • Komplexní analýzy všech typů materiálů včetně mikroanalýzy sloužící pro stanovení složení těchto materiálů.
  • Materiálový výzkum zaměřený na vývoj lineárních a trojrozměrných nanovlákenných útvarů, studium nových materiálů obsahujících nanočástice, kompozitních materiálů a dalších.
  • Odborná podpora při řešení výrobní a technologické problematiky v průmyslové sféře.


Odborné zaměření laboratoře

Laboratoř analytických metod je odborně orientována především na mikroskopické analýzy mikro- a nanomateriálů, kompozitů, tenkých vrstev, intermetalik, slitin železných i neželezných kovů, polymerních materiálů, geopolymerů, přírodních materiálů aj. Pracoviště se zabývá analýzami založenými na moderních metodách umožňujících měření velikosti a složení částic, určení jejich distribuce a statistickým zpracováním výsledků pro potřeby materiálového výzkumu. Zabývá se studiem poruch materiálů a poskytuje podporu pro ostatní výzkumná pracoviště Ústavu pro nanomateriály, pokročilé technologie a inovace.

Realizujeme metalografické a fraktografické analýzy, fázovou identifikaci a strukturoskopii, hodnocení tepelného zpracování, charakterizaci deformačních změn v materiálu.
Podílíme se na výzkumu a vývoji nových intermetalických materiálů pro vysokoteplotní využití.

Nové směry výzkumu

  • Optimalizované nekonvenční struktury materiálů s vysokým stupněm funkčnosti, studium těchto materiálů a hledání jejich nových oblastí použití.
  • Uplatnění výsledků analýz v materiálovém výzkumu.

Přístroje a vybavení

  • UHR FE-SEM ZEISS Ultra Plus je vybaven mikroanalytickými detektory OXFORD (EDX a WDX pro lokální kvalitativní i kvantitativní chemické analýzy a EBSD detektorem pro krystalografickou charakterizaci.
  • SPM JPK NanoWizard 2 s módy AFM, EFM, MFM, CAFM umožňující studie v materiálovém i biologickém výzkumu, nanolitografii a nanoindentaci.
  • Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2 s plně motorizovaným stolkem pro studium netransparentních vzorků v odraženém světle (režimy Bright Field, Dark Field, Polarizované světlo, C-DIC).
Pilatka, krystalická struktura
Pilatka

Krystalická struktura

Nabízíme

  • Komplexní zprávy pro materiálový výzkum.
  • Mikroskopické a mikroanalytické podpůrné studie pro vývojová pracoviště CxI.
  • Termické a termomechanické metody jako podpora pro studium materiálů.
  • Pořízené přístroje a vybavení, jejich využití
  • Rastrovací elektronová mikroskopie s detektory EDX, WDX pro mikroanalýzu: využití pro studium nanomateriálů včetně měření a statistického zpracování výsledků.
  • AFM pro studie v materiálovém výzkumu.
  • Termické a termomechanické metody pro stanovení odezev materiálů na termické expozice.

Smluvní partneři

  • Škoda Auto, a.s.,
  • Prettl Automotive Czech s.r.o.,
  • Preciosa, a.s.
  • Karlovarské prádelny s.r.o.
  • VÚTS, a.s.,
  • Rieter CZ s.r.o.
Babočka, tykadlo, SEM Zeiss
Babočka tykadlo

Tykadlo zvětšené na elektronovém mikroskopu UHR FE-SEM Carl Zeiss Ultra Plus

Kontakt

Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D., odborný garant laboratoře, +420 734 872 421, pavel.kejzlar@tul.cz