Přístroje Laboratoř mikroskopie
Elektronový mikroskop Zeiss ULTRA Plus
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Rastrovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením vybavený Schottkyho katodou, zobrazovacími (SE2, InLens, ESB, AsB) a analytickými detektory (EDS, WDS, EBSD) umožňující komplexní charakteristiku nanomateriálů a struktur.
Elektronový mikroskop Tescan Vega 3
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Základní rastrovací elektronový mikroskop s wolframovou katodou pro rutinní nenáročné analýzy.
Mikroskop s rastrující sondou JPK Nanowizard 3
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Mikroskop s rastrující sondou (SPM) umožňující práci v režimech AFM (mikroskop atomárních sil) a MFM (mikroskopie magnetických sil), 3D charakterizaci a lokální měření tuhosti a adheze povrchu biologických, kovových i nekovových preparátů v plynném či kapalném prostředí.
Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), C-DIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast), motorizovaný stolek.
Optický mikroskop ZEISS Axio Observer A1
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením pro pozorování transparentních vzorků.
Optický mikroskop Stemi 508
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Stereoskopický mikroskop s možností digitálního záznamu obrazu umožňující fotodokumentaci a následnou analýzu mikro/makrostruktur.
Optický stereo mikroskop Stemi DV4
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Makroskop pro rutinní náhledové pozorování struktur.
Precizní leštění ploch - Ion milling system SEM Mill 1060
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Zařízení pro precizní leštění ploch svazkem Ar iontů. Dvě nezávisle nastavitelná iontová děla pod úhlem 0 – 10° a urychlovací napětí 0,1 – 6 kV. Precizní příprava mikro/nano-řezy svazkem iontů, leštění vzorků pro EBSD a příprava vzorků pro TEM.
Naprašovačka pro SEM vzorky Quorum Q150R ES
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Kombinovaná napařovačka uhlíku a naprašovačka ušlechtilých kovů předně zlata, pro zvodivění povrchu elektricky nevodivých SEM vzorků. Vybavena komorou o velikosti 165mm a systémem pro měření tloušťky deponované vrstvy.
.jpeg)
Rozbrušovací pila STRUERS Secotom-50
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Metalografická rozbrušovací pila umožňující přesné dělení materiálů.
Leštička/bruska STRUERS Tegramin 25
Ing. Pavel Kejzlar, Ph.D.
Semiautomatická bruska a leštička metalografických vzorků.
.jpeg)
.png)
.jpeg)
.jpeg)
.png)
.png)
