Přístrojové vybavení - Mikroskopie

Elektronový mikroskop Zeiss ULTRA Plus
Rastrovací elektronový mikroskop s ultravysokým rozlišením vybavený Schottkyho katodou, zobrazovacími (SE2, InLens, ESB, AsB) a analytickými detektory (EDS, WDS, EBSD) umožňující komplexní charakteristiku nanomateriálů a struktur.

Elektronový mikroskop Tescan Vega 3
Základní rastrovací elektronový mikroskop s wolframovou katodou pro rutinní nenáročné analýzy.

Mikroskop s rastrující sondou JPK Nanowizard 3
Mikroskop s rastrující sondou (SPM) umožňující práci v režimech AFM (mikroskop atomárních sil) a MFM (mikroskopie magnetických sil), 3D charakterizaci a lokální měření tuhosti a adheze povrchu biologických, kovových i nekovových preparátů v plynném či kapalném prostředí.

Optický mikroskop ZEISS Axio Imager M2
Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), C-DIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast), motorizovaný stolek.

Optický mikroskop ZEISS Axio Observer A1
Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením pro pozorování transparentních vzorků.

Optický mikroskop Stemi508
Stereoskopický mikroskop s možností digitálního záznamu obrazu umožňující fotodokumentaci a následnou analýzu mikro/makrostruktur.

Optický stereo mikroskop Stemi DV4

Makroskop pro rutinní náhledové pozorování struktur.

Rozbrušovací pila STRUERS Secotom-50

Metalografická rozbrušovací pila umožňující přesné dělení materiálů.

Bruska/leštička STRUERS Tegramin 25

Semiautomatická bruska a leštička metalografických vzorků.